探針根據電子測試用途可分為：A、光電路板測試探針：未安裝元器件前的電路板測試和只開路、短路檢測探針，國內大部分的探針產品均可替代進口產品;

　　B、在線測試探針：PCB線路板安裝元器件后的檢測探針;高端產品的核心技術還是掌握在國外公司手中，國內部分探針產品已研發成功，可替代進口探針產品;

　　C、微電子測試探針：即晶圓測試或芯片IC檢測探針，核心技術還是掌握在國外公司手中，國內生產廠商積極參與研發，但只有一小部分成功生產。

　　探針主要類型：懸臂探針和垂直探針。

　　懸臂探針：劈刀型(Blade Type)和環氧樹脂型(Epoxy Type)

　　垂直探針：垂直型(Vertical Type)

　　1.ICT探針　(ICT series Probes)

　　一般直徑在2.54mm-1.27mm之間，有業內的標準稱呼100mil,75mil,50mil,還有更特別的直徑只有0.19mm,主要用于在線電路測試和功能測試.也稱ICT測試和FCT測試.也是目應用較多的一種探針.

　　2.界面探針(Interface Probes)

　　非標準的探針，一般是為少數做大型測試機臺的客戶定做的，例如泰瑞達(Teradyne)和安捷倫(Agilent).用于測試機臺與測試夾具的接觸點和面.

　　3.微型探針(MicroSeries Probes)

　　兩個測試點中心間距一般為0.25mm至0.76mm.

　　4.開關探針(Switch Probes)

　　開關探針單獨一支探針有兩路電流.

　　5.高頻探針(Coaxial Probes)

　　用于測試高頻信號，有帶屏蔽圈的可測試10GHz以內的和500MHz不帶屏蔽圈的.

　　6.旋轉探針(Rotator Probes)

　　彈力一般不高，因為其穿透性本來就很強，一般用于OSP處理過的PCBA測試.

　　7.高電流探針(High Current Probes)

　　探針直徑在2.54mm-4.75mm之間.最大的測試電流可達39amps.

　　8.半導體探針 (Semiconductor Probes)

　　直徑一般在0.50mm-1.27mm之間.帶寬大于10GHz,50Ω characteristic

　　9.電池接觸探針 (Battery and Connector Contacts)

　　一般用于優化接觸效果，穩定性好和壽命長.

　　10.汽車線束測試測試探針

　　專業用于汽車線束通斷檢測，直徑在1.0--3.5mm之間，電流在3----50A

　　除以上類型外還有溫度探針，Kelvin探針等，比較少用.

　　深圳市華榮華電子科技有限公司探針采用日本高精度CNC車床車削成形，經過精密的鍍層、硬度、壽命測試、產品品質已與歐、美、日、等一些知名產品相當。同時還提供德國INGUN、美國QA、臺灣CCP等名牌探針。