測試探針和探針針套是電子測試領(lǐng)域中用于電路連接與信號傳輸?shù)年P(guān)鍵組件，二者配合工作，確保測試過程的穩(wěn)定性、準(zhǔn)確性和安全性。下面詳細(xì)解析它們的功能原理：

一、測試探針的功能原理

測試探針（Test Probe）是直接與被測對象（如電路板焊點、芯片引腳等）接觸的核心部件，主要功能是傳導(dǎo)電信號或電流，實現(xiàn)對電路性能的檢測（如電壓、電流、電阻、信號完整性等）。

其核心原理基于導(dǎo)電接觸與信號傳導(dǎo)，具體可拆解為以下幾點：

1. 接觸傳導(dǎo)

探針頭部通常設(shè)計為尖狀、球狀或扁平狀等，通過一定的壓力（手動或機械驅(qū)動）與被測點（如焊點、引腳）緊密接觸，形成物理導(dǎo)電通路。探針材質(zhì)多為高導(dǎo)電性金屬（如銅合金、鍍金/鍍鎳合金），減少接觸電阻，確保信號損耗最小。

2. 彈性緩沖

多數(shù)探針內(nèi)部包含彈簧結(jié)構(gòu)，當(dāng)接觸壓力過大時，彈簧壓縮緩沖，避免損壞被測件（如脆弱的芯片引腳）或探針本身，同時保證穩(wěn)定的接觸壓力（接觸電阻與壓力相關(guān)，壓力過小時接觸電阻會增大）。

二、探針針套的功能原理
探針針套（Probe Socket/Holder）是固定和保護探針的輔助部件，其核心作用是定位、固定探針，并輔助探針與測試系統(tǒng)的連接，確保測試過程中探針的穩(wěn)定性和可更換性。

具體原理如下：

1. 機械固定與定位

針套內(nèi)部有匹配探針尺寸的孔洞或卡槽，將探針固定在特定位置（如測試治具的PCB板上），保證探針在測試時不會偏移，精準(zhǔn)對準(zhǔn)被測點（尤其是批量測試或自動化測試中，定位精度直接影響測試效率和準(zhǔn)確性）。

2. 電氣連接過渡

針套通常與測試治具的電路連接（如焊接在PCB上），探針插入針套后，通過針套內(nèi)部的導(dǎo)電結(jié)構(gòu)（如金屬彈片、鍍層）與治具電路導(dǎo)通，實現(xiàn)探針與測試系統(tǒng)的間接連接，避免探針直接焊接導(dǎo)致的更換困難。

三、二者的配合關(guān)系

探針與針套是“核心傳導(dǎo)部件”與“輔助固定部件”的關(guān)系，共同實現(xiàn)穩(wěn)定測試：

- 探針負(fù)責(zé)直接接觸被測點并傳導(dǎo)信號，依賴針套的固定來保證位置精準(zhǔn)；

- 針套通過固定探針，確保其在重復(fù)測試（如自動化設(shè)備的多次插拔）中不會松動或偏移，同時通過過渡連接簡化探針與測試系統(tǒng)的電氣連接。